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采用不同技术制造的钽电容器的故障模式

我们对于介质击穿的研究意在找出可 以对这种现象加以描述的基本参数系列及其 与最终产品的质量和可靠性之间的关系。基本 上介质击穿可由一系列的物理过程产生焦 耳热引起电导增加从而导致热击穿雪崩击 穿和场致发射击穿两电极之间的引力电化 学衰变枝状结晶组织等原因导致的机电崩塌 等等。介质击穿导致绝缘体和两极的击毁主 要由于熔化和蒸发和有时随后发生热逃逸。为 掌握钽MIS金属-绝缘体-半导体异晶结构 的更多数据和找到与介质击穿之间的关系我 们研究在两中模式下的电流/电压依赖工作参 数在正常模式下钽电极被施加正偏压在 相反模式下钽电极被施加负偏压

 

击穿击毁不仅源于突发的击穿情况而 且由于随后的电流流动从而使击穿的起源和 动力难于解释。
  
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